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      產品展示
      Model 63110A 63113A 63115ALED 仿真負載
      Model 63110A 63113A 63115ALED 仿真負載,LED driver為電流源,因此有一可輸出的電壓范圍及一固定的輸出電流。在LED driver的測試上,一般常使用的方式有下列幾種:1、使用真實電阻當負載。2、使用傳統電子負載操作于定電阻(CR)模式或定電壓(CV)模式。3、使用真實LED串聯當負載。/OL>但是這些測試方式都有其缺點,無法完全適合LED driver的測試需求。由此生產出Model 63110A 63113A 63115ALED 仿真負載。
      Model 61500 series可編程交流電源
      Chroma 61500系列交流電源供應器,樹立了業界高性能AC電源產品的新標準。Model 61500 series可編程交流電源可提供強大的使用功能,如電網干擾模擬,可編程輸出阻抗,全方位的測量功能,合成波形與IEC標準測試軟件。因擁有以上特點使得61500系列適合應用于一般商業產品,電力電子,航空電子設備,軍事與IEC標準測試的開發和運用,并且從實驗桌上測試到大量生產單位皆可適用。 Model 61500 series可編程交流電源提供用戶不同容量的單相輸出產品,從 500VA到4000VA。不論是在研發設計,產品驗證或量產測試等,都有*完善的應用選擇。
      Model 8491 LED電源自動測試系統
      Model 8491 LED電源自動測試系統——致茂電子成立于1984年,以自有品牌”Chroma”行銷全球,為精密電子量測儀器、自動化測試系統、制造資訊系統與全方位Turnkey測試及自動化解決方案供應商,主要產品包括LED 、太陽能、鋰電池、電動車、半導體/IC、雷射二極體、平面顯示器、視頻與色彩、電力電子、被動元件、電氣安規、熱電溫控、自動光學檢測、以及制造資訊系統等測試解決方案。Model 8491 LED電源自動測試系統更多內容請查看詳細說明。
      Model 58221-200-2LED 電性測試模組
      Model 58221-200-2LED 電性測試模組是特別針對LED所設計之全 方位電性測試機,主要滿足所有LED電性測試所 需之功能。針對High voltage (HV)部份,58221- 200-2 提供至±200V/±100mA之高精準度電流 源,而High Power (HP) 部份,Model 58221-200-2LED 電性測試模組提 供±10V/±2A之高精準度電流源。另外58221- 200-2設計為LED單機測試機,使用者除了可單機 操作以外也可利用USB介面與其他設計進行整合 與同步量測。
      Model 58212-CLED Mapping Probe Tester
      The Chroma 58212-C features an automated LED wafer/chip probe tester, delivering fast and accurate LED measurements with test times less than 125ms *1. The system can be modified to support different LED structures including Lateral, Vertical, and Flip Chip designs. Integrated scanners provide autonomous wafer mapping to guarantee precision testing. The patented probe head prevents device scratch
      Model 58173-TCLED Chip Level Tester
      The LED Test System Model 58173-TC focuses on LED wafer/chip characteristics analysis and provides optimized test performance. Its test items include a variety of voltage/ current output measurement, optical power measurement, and spectrum analysis. On measurement, several electrical and optical characteristics analysis can be achieved at a time within 25 ms, and its electrical measurement support
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