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      Model 3813觸碰面板多點半自動測試機
      Model 3813觸碰面板多點半自動測試機是一款新型的觸控面板線性測試機。3813 可測試數位式電阻與數位式電容面板以及傳統式電阻與傳統式電容面板,測試機采用平行測試技術,應用于觸控面板觸控測試,感應棒可X-Y及Z軸之下壓接觸移動,可依客戶設定好的軌跡測試,或由CAD直接轉檔,并可設定多項測試,且可同時上料6個待測物。 機器具備人性化操作介面(中文/英文),采用圖像使用者介面(GUI)及視窗作業系統,并具備接合介面供不同測試器使用。Model 3813觸碰面板多點半自動測試機更多詳細說明歡迎咨詢我們。
      Model 3280 Test-In-Tray 測試分類機
      Model 3280 Test-In-Tray 測試分類機采用**的技術整合SD卡測試機與自動分類機的功能,并利用Test-In-Tray的技術來達到大量平行測試的能力。透過支援SD資料傳輸協定(SD Protocol Aware)與提供特定DC參數測試的功能,3280為所有的SD卡類產品帶來了一個**的測試方法,而這高效率的測試方法也為用戶帶來大幅降低生產成本的好處。此外,小機臺的設計更可節省機臺于測試廠之占地面積。Model 3280 Test-In-Tray 測試分類機更多詳細介紹歡迎聯系我們。
      Model 3270微型 IC 測試分類機
      Model 3270微型 IC 測試分類機是一款**的微型 IC 測試分類機,特別適合 CMOS 影像感應組件 (CIS : CMOS Image Sensor) 量產所需,Chroma 3270 可配合多種不同的封裝類型包括傳統的QFP、TQFP、 μBGA、PGA及CSP封裝。Chroma 3270 采用 Pick & Place 技術,可從JEDEC夾盤來拾取IC,移動到測試位置,然后將測試后產品置于適當之 Tray 盤。 Model 3270微型 IC 測試分類機能同時處理32個待測物進行平行測試,并提供50?C~125?C高溫測試選擇。不但能提高產量,提升生產良率,同時大幅降低測試成本。
      Model 3260C三溫系統板測試分類機
      Model 3260C三溫系統板測試分類機主要特色:可靠的高速Pick & Place分類機;同步吸嘴雙取與雙放設計;浮動頭可有效率平衡測試壓力;IC殘留檢測功能;通用治具設計;Nitro TEC主動式溫控技術導入;支援Full Range (-40°C~125°C) 測試溫度;更快速的升降溫反應速度。Model 3260C三溫系統板測試分類機更多詳細介紹歡迎聯系我們。
      Model 3240自動化系統功能測試機
      Model 3240自動化系統功能測試機是一款新型的測試機可供多組PCB level平行測試的大量生產機具。3240可配合多數不同的封裝類型包括傳統的QFP、TQFP、μBGA、PGA 及CSP封裝。測試機采用取放的技術,可從JEDEC夾盤來拾取IC,移動到測試位置,然后將測試后產品放置于適當之Tray 盤。測試機可提供90度旋轉的需求,以符合各種IC方向性,使各個IC接腳同一方向。 Model 3240自動化系統功能測試機以并排平行方式,進行測試。在高溫下具有自動溫度冷卻(ATC)功能,其范圍從攝氏50度到125 度可測試1至4個測試座。
      Model 3240-Q無線射頻分類機
      Model 3240-Q無線射頻分類機是一臺獨特且**、整合了射頻和無線隔離室之自動分類機。此機臺配置多達八個測試站點和獨立的隔離作平行測試。 3240-Q具有順暢的自動化測試,、**的Pick & Place技術、彈性的多測點架構、高產能和低Jam Rate等優勢,適用于射頻和無線晶片測試。 Model 3240-Q無線射頻分類機也可依據測試需求支援各種不同類型封裝的晶片。具有自動送料/分料盤設計, 3240-Q適用于JEDEC和EIA料盤規范。另有選配的加強溫控的測試能力, 可提供高達150℃之高溫測試環境。
      Model 3180邏輯測試分類機
      Model 3180邏輯測試分類機是一款運用Pick & Place技術的量產型機臺,適合高產出多測試站點的IC測試。節省了廠房空間,測 試時間和成本,3180**的設計可提高生產力和生產效率。機臺可配置作單站, 雙站, 四站或八站測試, 亦可升級作高溫150 ℃測試.。 Model 3180邏輯測試分類機有著高可靠性的處理機制可依據測試需求支援各種不同類型封裝的晶片,且能與通用生產治具 相容,順暢的自動化技術滿足高產能和低Jam Rate的量產要求。此外,可調式的壓測力和位置校正以 及各種感應裝置可降低待測物發生突如其來的損壞,和幫助延長socket的使用期,同時保持或提升產 能的良率。
      Model 3160 series指紋辨識芯片4 site 終端測試分類機
      Model 3160 series指紋辨識芯片4 site 終端測試分類機是適合量產、高產出、多平行測試站點的高速IC測試分類機。Model 3160 series指紋辨識芯片4 site 終端測試分類機運用Pick & Place技術,能夠配合多種封裝類型并按照測試結果將它們排序分類予分料盤中。其高效率的模組 化設計與精準的機構傳動結構可確保在高速運作下,機臺量測之重復性,并有助于增加機臺使用之穩定性與維護之便利性。此外,其簡潔的機臺設計更可節省機臺于測試廠之占地面積,幫助客戶大幅降低生產成本。進階款3160A可按照客戶測試條件需求搭配Chroma*新研發的主動式熱控模組 (ATC) 達到精準的常、高溫測試溫度要求;3160F則可依其待測物 (指紋辨識芯片) 的不同需求,修改測試條件及程序。
      Model 3112晶片測試分類機
      Model 3112晶片測試分類機具備單頭與多頭之適合量產的PnP自動化晶片測試分類機,可藉由治具變更處理各種不同尺寸規格之晶片測試與分類。此設備透 過PnP方式將晶片自晶片盤載入至測試站中,準確的測試后依據測試結果穩定的放置于分類盤中。其高效率的模組化設計與精準的機構傳動結構可確保在高速運作下減少Jam Rate的量產要求,多重檢查功能裝置可降低待測物發生異常的損壞。Model 3112晶片測試分類機更多詳細介紹歡迎聯系我們。
      Model 3111桌上型單站測試分類機
      Model 3111桌上型單站測試分類機適用于系統功能檢測,也同時具備終端電性測試的能力,系統支援各種不同類型的封裝晶片, 支援的晶片尺寸從 5x5mm 到 45x45mm。 為提升產能,Model 3111桌上型單站測試分類機具備遠端功能可于任何地點透過網路連接方式進行控制,3111可用軟體設 定JEDEC料盤的分配以及進行工程測試,在60公 分平方的空間里發揮*大的效用以節省時間和成本,簡易操作的系統介面(Windows?)提供一各 快速且容易的設定方式,可簡化流程并提高效率。
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