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      方塊電阻測試儀ST-21*新報價
      方塊電阻測試儀ST-21*新報價是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準,專門測量半導體薄層電阻(表面電阻)的新型儀器,可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜),金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻;歡迎選購方塊電阻測試儀ST-21*新報價。
      CV-2000電容電壓特性測試儀
      CV-2000電容電壓特性測試儀作為組成半導體器件的基本結構的PN結具有電容效應(勢壘電容)。加正向偏壓時,PN結勢壘區變窄,勢壘電容變大;加反向偏壓時,PN結勢壘區變寬,勢壘電容變??;歡迎選購CV-2000電容電壓特性測試儀。
      四探針測試臺ST-102D價格
      四探針測試臺ST-102D價格,工作臺面370mm*245mm;載物臺直徑4",可選二種放大倍數,14-90倍連續變倍;17.5-112.5倍連續變倍;歡迎選購四探針測試臺ST-102D價格。
      四探針測試儀RTS-3 (手持式)
      四探針測試儀RTS-3 (手持式)測量范圍寬、精度高、穩定性好、結構緊湊、易操作的手持式設計;體積僅為:mm(長)*90mm(寬)*30mm(高); 重量:350g;使用鋰電池供電,一次充電可連續使用100小時;歡迎選購四探針測試儀RTS-3 (手持式)。
      雙電測四探針測試儀SDY-5
      雙電測四探針測試儀SDY-5采用了四探針雙位組合測量技術,利用電流探針、電壓探針的變換,進行兩次電測量,能自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響,從而提高了測量結果的準確度;歡迎選購雙電測四探針測試儀SDY-5。
      四探針測試儀RTS-2A價格
      四探針測試儀RTS-2A價格是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準而設計的,專用于測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器;四探針測試儀RTS-2A價格請聯系我們。
      雙電測四探針測試儀RTS-5
      雙電測四探針測試儀RTS-5采用了四探針雙電測組合(亦稱雙位組合)測量新技術,將范德堡測量方法推廣應用到直線四探針上,利用電流探針、電壓探針的變換,在計算機控制下進行兩次電測量,能自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響;歡迎選購雙電測四探針測試儀RTS-5。
      RTS-1345四探針測試系統
      RTS-1345四探針測試系統是運用四探針測量原理的多用途綜合全自動測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準而設計的,專用于測試半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的專用儀器;歡迎選購 RTS-1345四探針測試系統。
      ST-102A四探針測試臺
      ST-102A四探針測試臺(英文叫Prober station,中文又稱中測臺,點測機。)、與測試儀器配接后可用于集成電路芯片及各種晶體管芯的電參數測試及功能調試,適用于科研、新品試制及小批量生產的中間測試;歡迎選購ST-102A四探針測試臺。
      RTS-8數字式四探針測試儀
      RTS-8數字式四探針測試儀 是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準而設計的,專用于測試半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的專用儀器;歡迎選購RTS-8數字式四探針測試儀。
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